<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">oo</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Открытое образование</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Open Education</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1818-4243</issn><issn pub-type="epub">2079-5939</issn><publisher><publisher-name>Plekhanov Russian University of Economics</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21686/1818-4243-2017-6-23-30</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">oo-466</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>METHODICAL MAINTENANCE</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Основные подходы к формированию компетенции в области диагностики схем на базе ПЛИС</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>The main approaches to the formation of competence in the field of diagnostics of circuits based on FPGA</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шаповалов</surname><given-names>Ю. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Shapovalov</surname><given-names>Yuriy V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>К.т.н., доцент, профессор </p><p>Тел.: (499) 158 43 82 </p></bio><bio xml:lang="en"><p>Cand. Sci. (Eng.), Associate Professor, Professor </p><p>Tel.: (499) 158 43 82 </p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чугаев</surname><given-names>Б. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Chugaev</surname><given-names>Boris N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>К.т.н., доцент </p><p>Тел.: (499) 158 43 82 </p></bio><bio xml:lang="en"><p>Cand. Sci. (Eng.), Associate Professor </p><p>Tel.: (499) 158 43 82</p></bio><email xlink:type="simple">b.915@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет), Москва</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Aviation Institute (National Research University), Moscow</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>16</day><month>01</month><year>2018</year></pub-date><volume>0</volume><issue>6</issue><fpage>23</fpage><lpage>30</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Шаповалов Ю.В., Чугаев Б.Н., 2018</copyright-statement><copyright-year>2018</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Шаповалов Ю.В., Чугаев Б.Н.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Shapovalov Y.V., Chugaev B.N.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://openedu.rea.ru/jour/article/view/466">https://openedu.rea.ru/jour/article/view/466</self-uri><abstract><p>Данная работа посвящена вопросам диагностики и контроля примитивных автоматов (комбинационных схем) описываемых в «Теории автоматов» булевыми уравнениями, которые являются теоретическим фундаментом для постановки и решения задач в области информатики. Классическим применением этих положений является разработка моделей аппаратных средств вычислительной техники. Наряду с классическим применением эта теория широко применяется для моделирования и создания важных компонентов программного обеспечения. Известный ученый в области информатики Брайан Рэнделл (Brian Randell), выступая на одной из конференций, сказал: «Я помню Дуга Росса из компании Soft Tech, много лет назад говорившего, что 80 или даже 90% информатики будет в будущем основываться на теории конечных автоматов». Целью исследования является построение диагностических тестов для комбинационных схем с проверкой на константные ошибки. Проблема диагностирования актуальна прежде всего для проверки правильности функционирования больших интегральных схем, так как ошибки проектирования непредсказуемы и могут быть эквивалентны неисправностям высокой кратности. Кроме того, эти методы необходимы и для диагностирования таких схем в ходе их изготовления и в процессе эксплуатации.</p><p>Определение технического состояния объекта диагностирования заключается в подаче на него последовательности входных воздействий и последующем анализе степени соответствия полученной последовательности выходных действий алгоритму функционирования, который должен реализовать объект диагностирования. В качестве входных последовательностей могут использоваться либо рабочие последовательности воздействий, т.е. воздействия, поступающих на объект в процессе его функционирования по назначению, либо последовательность специально генерируемых тестовых воздействий. В первом случае имеет место функциональное, а во втором тестовое воздействие. Совокупность средств и объекта диагностирования образуют систему технического диагностирования (СТД). Требования к СТД существенно зависят от того, на каком этапе «жизни проекта» – при проектировании, изготовления или эксплуатации – осуществляется техническое диагностирование. Проверка правильности проектирования сводится к определению соответствия функциональной схемы, выполненного в требуемой элементной базе, исходному заданию на проектирование.</p><p>Техническое диагностирование схем, выполняемое на различных этапах их производства, является неотъемлемой частью технологического процесса их изготовления. Поэтому к продолжительности диагностирования, обеспечивающего требуемую достоверность результатов этого процесса, предъявляются жесткие требования. Требования к достоверности результатов, продолжительности, периодичности диагностирования, осуществляемого в ходе эксплуатации, могут изменяться в широких пределах в зависимости от назначения СТД и режима ее применения [1, 2, 3, 5]. В ходе исследований авторами получены способы построения тестовых наборов, обеспечивающих однократный просмотр в одном направлении (без обратного просмотра), позволяющие определять неисправность. При этом такие параметры СТД, как требуемая достоверность результатов технического диагностирования, допустимая периодичность и продолжительность диагностирования, допустимые объемы памяти, предназначенной для хранения диагностической информации, для СТД различного назначения могут изменяться в достаточно широких пределах.</p><p>Таким образом, использование способов построения тестовых наборов, дает возможность получить по аналитической записи выходной функции алгоритм формирования всей необходимой информации для проведения диагностических тестов. Авторами сформулированы условия, достаточные для формирования диагностической последовательности для обнаружения константных ошибок в работе комбинационных схем по аналитической записи. Рассмотренные вопросы являются актуальными для обучения в технических вузах и широко использоваться при создании операционных устройств на базе программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) и базовых матричных кристаллах (БМК). </p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>This work is devoted to the questions of diagnostics and control of primitive machines (combinational circuits), described by Boolean equations in “Theory of machines”, which are the theoretical foundation for formulating and solving problems in the field of computer science. A classic application of these provisions is the development of models of computing systems hardware. Along with the classical application this theory is widely used for modeling and the creation of important software. Well-known scientist in the field of Informatics Brian Randall, speaking at a conference, said: “I remember Doug Ross from Soft Tech Company, many years ago saying that 80 or even 90% of computer science in the future will be based on the theory of finite automata”. The aim of the study is the construction of diagnostic tests for combinational circuits with a check for constant error. The problem of diagnosis is relevant primarily to verify the functioning of large integrated circuits, as design errors are unpredictable and can be equivalent to errors of high multiplicity. In addition, these methods are necessary for diagnosis of such circuits during their manufacture and operation.</p><p>The determination of a technical condition of diagnostic object consists in submitting to it a sequence of input actions and subsequent analyze of the degree of matching between the output actions and the algorithm, which the diagnostic object must implement. The input sequences can be either working sequence of impacts, i.e. impacts coming to the object in the process of its operation as intended, or a sequence of specially generated test actions. In the former case it is functional stimulus and in the second case it is test stimulus. The set of tools and the diagnostic object constitute a system of technical diagnostics (STD). Requirements for STD greatly depend on the stage of “life project” (design, manufacture or operation) during which the technical diagnostics is carried out. Checking the correctness of the design is to determine the compliance of functional circuit, made in the required element base with the original design requirements.</p><p>Technical diagnosis of circuits that are performed at various stages of their production is an integral part of the technological process of their manufacture. Therefore, there are strict requirements for the duration of the diagnosis that provides the required reliability of the results. The requirements for the reliability of the results, duration, frequency of diagnosis, performed during the operation, may vary within wide limits depending on the purpose of STD and mode of its application [1, 2, 3, 5]. During the research the authors obtained the ways to generate test suites that provide a single view in one direction (no reverse lookup) to determine the fault. At the same time such STD parameters as the required accuracy of the results of technical diagnosis, allowable frequency and duration of diagnosis, a valid memory for storing diagnostic information for the STD for different purposes can vary within a wide range.</p><p>Thus, the use of methods for test sets’ construction allows to obtain the algorithm of generation of all the necessary information for conducting diagnostic tests using the analytical form of the output function. The authors formulated conditions sufficient for the generation of the diagnostic sequence for the detection of constant errors in the combinational circuits on the base of the analytical form. The issues outlined above are relevant for teaching in technical universities and widely used in the creation of the operating devices on the base of programmable logical integrated circuits (FPGA) and basic matrix crystals (BMC). </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>Комбинационная схема</kwd><kwd>компетенция</kwd><kwd>диагностический тест</kwd><kwd>константные ошибки</kwd><kwd>группы ошибок</kwd><kwd>базовый элемент</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>combinational circuit</kwd><kwd>competence</kwd><kwd>diagnostic test</kwd><kwd>constant errors</kwd><kwd>groups of errors</kwd><kwd>basic element</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Основы технической диагностики. Модели объектов, методы и алгоритмы диагноза / Под ред. Пархомоменко П.П. М.: Энергоато- миздат, 1976. 464 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Osnovy tekhnicheskoy diagnostiki. Modeli ob’ektov, metody i algoritmy diagnoza. Ed. Parkhomomenko P.P. Moscow: Energoatomizdat, 1976. 464 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики. М.: Энергоатомиздат, 1981. 432 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Parkhomenko P.P., Sogomonyan E.S. Osnovy tekhnicheskoy diagnostiki. Moscow: Energoatomizdat, 1981. 432 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Автоматное управление асинхронными процессами в ЭВМ и дискретных системах / Под ред. Варшавского В.И. М.: Наука, 1985. 385 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Avtomatnoe upravlenie asinkhronnymi protsessami v EVM i diskretnykh sistemakh / Ed. Varshavskogo V.I. Moscow: Nauka, 1985. 385 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Чипулис В.П. Методы предварительной обработки и формы задания диагностической информации для поиска неисправности дискретных устройств // А и Т. 1977. № 4. C. 165–175.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chipulis V.P. Metody predvaritel’noy obrabotki i formy zadaniya diagnosticheskoy informatsii dlya poiska neispravnosti diskretnykh ustroystv. A i T. 1977. No. 4. P. 165–175. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Теория проектирования вычислительных машин, систем и сетей: Учебное пособие / В.И. Матов, Г.Т. Артамонов, О.М. Брехов и др.; Под ред. Матова В.И. М.: Изд-во МАИ, 1999. 460 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Teoriya proektirovaniya vychislitel’nykh mashin, sistem i setey: Uchebnoe posobie / V.I. Matov, G.T. Artamonov, O.M. Brekhov i dr.; Ed. Matova V.I. Moscow: Izd-vo MAI, 1999. 460 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пономарев М.Ф., Коноплев Б.Г., Фомичев А.В. Базовые матричные кристаллы: Проектирование специализированных СБИС на их основе. М.: Радио и связь. 1985. 287 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ponomarev M.F., Konoplev B.G., Fomichev A.V. Bazovye matrichnye kristally: Proektirovanie spetsializirovannykh SBIS na ikh osnove. Moscow: Radio i svyaz’. 1985. 287 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тоценко В.Г. Алгоритмы технического диагностирования дискретных устройств. М.: Радио и связь. 1985. 240 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Totsenko V.G. Algoritmy tekhnicheskogo diagnostirovaniya diskretnykh ustroystv. Moscow: Radio i svyaz’. 1985. 240 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">HuffmanD.A. A method for the construction of minimum redunance codes // Proc. IRE. 1952. Vol. 40. No.10. P. 1098–1101.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Huffman D.A. A method for the construction of minimum redunance codes. Proc. IRE. 1952. Vol. 40. No. 10. P. 1098–1101.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Селлерс Ф. Методы обнаружения ошибок в работе ЭЦВМ. М.: Мир. 1972. 310 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sellers F. Metody obnaruzheniya oshibok v rabote ETsVM. Moscow: Mir. 1972. 310 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Максфилд К. Проектирование на ПЛИС. М.: Издательский дом «Додека – ХХI», 2007. 408 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Maksfild K. Proektirovanie na PLIS. Moscow: Izdatel’skiy dom «Dodeka – KhKhI», 2007. 408 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гольдман Р.С., Чипулис В.П. Техническая диагностика цифровых устройств. М.: Энергия. 1976. 224 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gol’dman R.S., Chipulis V.P. Tekhnicheskaya diagnostika tsifrovykh ustroystv. Moscow: Energiya. 1976. 224 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бутаев М.М., Вашкевич Н.П. и др. Проектирование цифровых устройств на программированных интегральных схемах Пенза.: Изд- во ПГТУ, 1998. 287 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Butaev M.M., Vashkevich N.P. i dr. Proektirovanie tsifrovykh ustroystv na programmirovannykh integral’nykh skhemakh Penza: Izd-vo PGTU, 1998. 287 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Миллер Р. Теория переключательных схем. Т. 1 М.: Наука, 1970. 416 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Miller R. Teoriya pereklyuchatel’nykh skhem. Vol. 1 Moscow: Nauka, 1970. 416 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аржененко А.Ю., Чугаев Б.Н. Оптимизация транзитивных бинарных вопросников. // А и Т. 1985. № 2. C. 159–164.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Arzhenenko A.Yu., Chugaev B.N. Optimizatsiya tranzitivnykh binarnykh voprosnikov. A i T. 1985. No. 2. P. 159–164. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Блау С.А., Липаев В.В., Позин Б.А. Эффективность тестирования структуры программных модулей // А и Т. 1984. № 4. C. 139–148.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Blau S.A., Lipaev V.V., Pozin B.A. Effektivnost’ testirovaniya struktury programmnykh moduley. A i T. 1984. No. 4. P. 139–148 (In Russ.).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Essentials of Electronic Testing for Digital. Memory. and Mixed-Signal VLSI Circuits – Series: Frontiers in Electronic Testing. Vol.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Essentials of Electronic Testing for Digital. Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits – Series: Frontiers in Electronic Testing. Vol.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bushnell M. Agrawal, Vishwani 1 издание 2000. 2 исправленное. 2000. 712 с. 17. Writing Testbenches Using SystemVerilog - Springer; 1 издание (10.02.2006), Janick BergeronSynopsys, Inc. 440 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bushnell M. Agrawal, Vishwani 1 ed. 2000. 2 ed. 2000. 712 p. 17. Writing Testbenches Using SystemVerilog - Springer; 1 ed. (10.02.2006), Janick Bergeron- Synopsys, Inc. 440 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Schonhage A., Paterson M., Pippinger N. Finding the median // Jour. of Computer and Systems Sciences. 1976. Vol. 13. No. 3. C. 184–199.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schonhage A., Paterson M., Pippinger N. Finding the median. Jour. of Computer and Systems Sciences. 1976. Vol. 13. No. 3. P. 184–199.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Альсведе Р., Вегенер И. Задачи поиска. М.: Мир, 1982. 310 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Al’svede R., Vegener I. Zadachi poiska. Moscow: Mir, 1982. 310 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Попов А.Ю. Проектирование цифровых устройств с использованием ПЛИС Учебное пособие. М: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009. 328 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Popov A.Yu. Proektirovanie tsifrovykh ustroystv s ispol’zovaniem PLIS Uchebnoe posobie. Moscow: Izd-vo MGTU im. N.E. Baumana, 2009. 328 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
